蔡司Xradia 610 & 620 Versa三维X射线显微镜在科研和工业研究领域为您开启多样化应用的新高度。基于高分辨率和衬度成像技术，Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亚微米级无损成像的研究界限。采用光学加几何两级放大成像架构，可实现大样品高分辨率成像。闪烁体和光学物镜耦合技术可实现高衬度和增强的相位衬度成像。基于高分辨率和衬度，蔡司X射线显微镜 Xradia 600 系列 Versa 拓展了无损成像的研究界限，提高研究灵活性，加快研究进展。创新的数据采集工作流让您无需对样品进行切割即可实现对搜索合发现的感兴趣区域进行高分辨成像。

产品特点：
1. 三维无损成像
2. 500 nm真实空间分辨率，40nm最小体素
3. 更快的成像速度
4. 大工作距离下高分辨率，可实现不同类型、尺寸样品多尺度成像
5. 吸收、相位和衍射衬度成像模式
6. 4D 原位成像能力
7. 可升级、拓展和可靠性

应用领域：
1. 材料科学，如三维无损分析
2. 生命科学，如微观结构成像
3. 地球科学，如地质、油气、矿产、古生物等三维成像
4. 电子和半导体行业，如形貌测量及失效分析
5. 原位力学、变温试验
6. 衍射衬度成像，实现三维晶粒取向分析