蔡司三坐标的测量机使用方法
蔡司三坐标测量机的简称，自1960年代中期第一台坐标测量机问世以来，随着计算机技术的进步和电子控制系统，检测技术的发展，为测量机向高精度，高速化的发展方向提供了强大的支持。技术支援。
蔡司三坐标可以分为接触式测量和非接触式测量以及接触式和非接触式测量。接触测量通常用于测量机加工产品和压制产品，金属膜等。本文以接触测量机为例，说明几种扫描物体表面以获得数据点的方法。数据点的结果可用于处理数据分析，也可为逆向工程技术提供原始信息。扫描是指借助于测量仪的应用软件来获取被测物体表面特定区域中的数据点。该区域可以是直线，表面，零件的一部分，零件的曲线或距边缘一定距离的周边。 SCAN的类型取决于测量模式，探头的类型和CAD文件的存在。状态按钮（手动/ DCC）确定屏幕上可用的“扫描”选项。外围扫描通常用于使用DCC进行测量并确保CAD文件可用。这些是“ OPEN LINEAR”，“ CLOSED LINEAR”，“ PATCH”，“ SECTION”和“ PERIMETER”扫描。如果使用DCC，并且仅线框CAD文件可用，则可以使用“开放线性”，“封闭线性”和“面片”扫描方法。如果使用手动测量模式，则只能使用基本的“手动TTP扫描”模式。如果探针在手动测量模式下是刚性的，则选项为“固定增量”，“可变增量”，“时间增量”和“身体轴扫描”。
下一篇：扫描电镜用于观测不导电样品
上一篇：蔡司显微镜的发展历程
扫描关注我们